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深圳市金东霖科技有限公司

测厚仪,膜厚测试仪,电镀膜厚仪

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博曼半导体膜厚测试仪
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产品: 博曼半导体膜厚测试仪 
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有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-12-18 20:44
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详细信息
 博曼半导体膜厚测试仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
博曼膜厚测试仪的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件,包括线路板,芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的,目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的
辐射强度.
博曼膜厚测试仪专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构.
具有强大功能的X-射线 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种独立元素的多镀层的厚度和成分。
镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量,我公司是博曼(bowman)仪器的大陆代理商,专业销售:复合镀层测厚仪、X射线元素分析仪、线路板铜厚测量仪、合金分析仪、产品RoHS检测仪,镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪.
bowman膜厚测试仪优势有:
1.高性能、高精度、长期稳定性、快速精确的分析带来生产成本最优化,精确测定元素厚度,优化的性能可满足广泛的元素测量.
2.坚固耐用的设计:可靠近生产线或在实验室操作,生产人员易于使用.
3.简单的校准调试:bowman膜厚测试仪在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果,方法建立只需几分钟,我们提供认证标准片以确保最佳精确度(A2LA和ISO/IEC17025),预置了多种校准参数.
博曼膜厚测试仪特点:
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
联系人:舒翠 136 0256 8074
电话:0755-29371655 
传真:0755-29371653  
交易信息.kinglinhk.b2b
地址:深圳市宝安沙井北环大道鸿安大厦502 
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