BOWMAN(博曼)X射线半导体膜厚仪此仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。Bowman博曼膜厚仪无数次的专利发明,包括使用DCM 自动对焦方法和透明的准值器,操作简单。不用调校.
X-射线管的距离也可测量,操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。
BOWMAN(博曼)X射线膜厚仪可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。
二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。
三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。
双镀层:例如Au/Ni/Cu,Cr/Ni/Cu,Au/Ag/Ni,Sn/Cu/Brass,等等。
双镀层,其中一个镀层为合金层:例如Cr/NiCu/Plastic;Fe。
博曼X射线半导体膜厚仪提供:
(1)无损分析:无需样品制备
(2)经行业认证的技术和可靠性,确保每年都带来收益
(3)操作简单,只需要简单的培训
(4)分析只需三步骤
(5)杰出的分析准确性和精确性
(6)在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
(7)使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量,保证质量的同时降低成本。
BOWMAN(博曼)X射线半导体膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.
让客户满意,为客户创造最大的价值是金东霖追求的目标,因为我们坚信,客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图。联系人:舒翠 136 0256 8074 0755-29371655 QQ:2735820760
半导体膜厚仪